[CC] Analyse de particules et de contaminants par la Microscopie électronique
by Zeiss
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Découvrez lors de ce webinar technique de 1h30 organisé avec Oxford Instruments:
- L’histoire de la Microscopie électronique à balayage
- Microscopie électronique à balayage VS microscopie optique (avantages et inconvénients)
- Les Interactions électrons matières
- La Configuration MEB pour l’analyse de particules
- Système EDS AZtec d’Oxford Instruments avec l’analyse de particules AZtecFeature et le module AZtecClean
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Zeiss